雙85測(cè)試的目的
更新日期：2017-04-07 點(diǎn)擊：3722
雙85測(cè)試的目的
由于PCB基材的絕緣層是由樹(shù)脂與玻璃布所構(gòu)成，當(dāng)在高電壓狀態(tài)下，通孔與通孔、線(xiàn)路與線(xiàn)路、線(xiàn)路與通孔間形成一個(gè)電場(chǎng)，而PCB濕制程很多，水分中或板面清潔不良?xì)埩舻碾娊赓|(zhì)可能經(jīng)由鉆孔產(chǎn)生的微裂縫順著玻璃纖的方向遷移產(chǎn)生短路，造成絕緣失效，這種現(xiàn)象稱(chēng)為CAF陽(yáng)極性玻纖絲的漏電現(xiàn)象。CAF測(cè)試通過(guò)監(jiān)控測(cè)試單元的電阻，當(dāng)CAF發(fā)生時(shí)，絕緣層的絕緣性能下降，電阻也隨之下降，由此可判斷CAF的失效，顧可通過(guò)寧波奉化精控環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備有限公司的雙85試驗(yàn)箱測(cè)得。電解離子的遷移是需要條件的。高溫高濕加偏壓剛好提供了離子加速遷移的條件 。
